用戶在使用半導體芯片高低溫測試裝置的時候，需要經常對半導體芯片高低溫測試裝置進行保養(yǎng)工作，使得半導體芯片高低溫測試裝置達到更好的運行效果。

保持環(huán)境干凈：

打掃半導體芯片高低溫測試裝置表面及內腔灰塵，保持機器干凈、衛(wèi)生。檢查電流表電流跟正常時是否一樣，如有異樣，通知維修工檢修。

半導體芯片高低溫測試裝置突然停電，要把加熱開關關閉，防止來電時自動啟動。檢查風機運轉是否正常，有無異常聲音，如有立即關閉機器并通知維修工檢修。

機組選購要領：

選購一臺半導體芯片高低溫測試裝置就像為自己買衣服一樣，要適合自己，但還要考慮到跟多的因素，因為選購半導體芯片高低溫測試裝置不僅僅要要談談如何選購適合自己公司的半導體芯片高低溫測試裝置適合自己，還要考慮到自己公司的環(huán)境、工作需求和使用溫度等因素。

每個物品或設備對溫度都有一定的要求，但是有的要求非常嚴格的。而半導體芯片高低溫測試裝置就是對溫度有一定要求的，根據(jù)工藝要求，計算好實際要求的溫差，可以根據(jù)產品的工藝要求選擇。溫差的大小直接影響產品的質量。

不同的物品需要不同的空間進行擺放，而物品應該放在方便使用的地方。物品在搬運時應該考慮是否適合搬運，并且擺放的位置是否適合方便使用和下次的搬運。

總結

半導體芯片高低溫測試裝置在使用過程中建議不要讓不懂操作的人員進行操作，避免設備損壞。

高低溫試驗箱參數(shù)和內箱尺寸

一、高低溫試驗箱產品規(guī)格
型號:HY-80T 內型尺寸:D×W×H 400×500×400
型號:HY-225T 內型尺寸:D×W×H 500×600×750
型號:HY-408T 內型尺寸:D×W×H 600×850×800
型號:HY-010T 內型尺寸:D×W×H 1000×1000×1000

     二、高低溫試驗箱技術指標：
1、溫度范圍：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃
2、溫度均勻度：≤±2℃ (空載時)
3、溫度波動度：±0.5℃ (空載時)
4、溫度偏差:≤±2℃
5、降溫速率：0.7～1.2℃/min
6、升溫速度：1.0～3.0℃/min
7、時間設定范圍：0～999 小時
8、 噪音：＜65dB